8 (495) 540-59-73
  sales@deltaanalytics.ru

Поиск по сайту:
Лабораторные весы

новости
Лабораторное оборудованиеShimadzu (Шимадзу)Shimadzu (Шимадзу) SPM-9700

Shimadzu (Шимадзу) - Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700

SPM-9700

Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) — один из мощных современных методов исследования формы и локальных свойств поверхности твёрдого тела. С помощью сканирующего зондового микроскопа можно получить цифровое трёх мерное изображение атомарной решётки, живой клетки, интегральной микросхемы, структуры полимера и т.д.

C помощью SPM-9700 можно:

  • получать трехмерное изображение рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз.
  • измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра:
    • механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность)
    • электрических (потенциал, проводимость)
    • магнитных (распределение намагниченности)

Может использоваться в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физических и химических исследованиях.

Стандартные режимы работы:

  • Контактный режим
  • Режим латеральных сил
  • Динамический режим
  • Фазовый режим
  • Режим силовой модуляции
  • Силовая кривая

Опциональные режимы работы:

  • Режим проводимости
  • Режим поверхностного потенциала (кельвин-микроскопия)
  • Магнитно-силовой режим (магнитно-силовая микроскопия)
  • Силовое картирование
  • Режим векторного сканирования
  • Режим сканирования в слое жидкости
  • Электрохимическая атомно-силовая микроскопия

Опции для расширения возможностей SPM-9700:

  • Оптический микроскоп с цифровой камерой
  • Волоконно-оптический осветитель
  • Блоки широко/узко-форматного и глубинного сканирования
  • Климатическая камера с нагревателем образцов, контролем температуры, влажности и газового состава атмосферы
  • Программа анализа распределения частиц по размерам

Революционный графический пользовательский интерфейс обеспечивает неограниченную поддержку операций, начиная от наблюдения в режиме реального времени до анализа данных в автономном режиме.


Технические характеристики

Методы исследования По умолчанию: Отображение фазы
Латерально-силовая микроскопия
Модуляция силы
Опционально: Магнитно-силовая микроскопия
Токовый
Поверхностный потенциал
x,y 0.2нм
z 0,01нм
СЗМ головка Смещение системы обнаружения Источник света/оптический рычаг/детектор
Источник света Лазерный диод (ON/OFF)
Освещает консоль непрерывно, даже во время замены образца.
Детектор Фотодетектор
Сканер Приводной элемент Трубчатый пьезоэлектрический элемент
Макс. диапазон сканирования (X, Y, Z) 30 µm x 30 µm x 5 µm (стандарт)
125 µm x 125 µm x 7 µm (опция)
55 µm x 55 µm x 13 µm (опция)
2.5 µm x 2.5 µm x 0.3 µm (опция)
Сэмплер Максимальный размер образца 24 мм в диаметре x 8 мм
Метод замены образца Механизм с выдвижной головкой с интегрированной системой обнаружения и консолью
Смена образцов происходит без снятия консоли
Метод крепления образца На магните
Механизм регулирования Полностью автоматическое, независимо от толщины образца
Максимальный размах 10 мм
Панель сигнализации Метод индикации Полный падающий свет к датчику (цифровой дисплей)
Виброгаситель Антивибрационные основания Встроенный в СЗМ блок
Оптический Микроскоп Принцип работы Делитель луча, выдвижной механизм
Специализированный корпус Наличие Не обязательно или контролируемая камера

Права защищены Copyright © Delta Analytics 2016         статьи